超聲波測(cè)厚儀顯示屏控制信號(hào)由A-掃描PK變數(shù)Automtischer深度補(bǔ)償數(shù)據(jù)存儲(chǔ)B-掃描和矩陣存儲(chǔ)準(zhǔn)備精確的時(shí)間測(cè)量（0.2納秒）探頭可以自動(dòng)測(cè)量自動(dòng)深度補(bǔ)償（ATCG）高脈沖重復(fù)頻率為100 Hz

PG70ABDL 手持式超聲波測(cè)厚儀為用戶提供 0.01mm 或 0.001mm (0.001/0.0001“) 的可選分辨率。 儀表的自動(dòng)尋找功能可以定位監(jiān)測(cè)點(diǎn)，調(diào)節(jié)顯示屏設(shè)置以顯示波形。 儀表的高速掃描功能加速了檢測(cè)過程，達(dá)到每秒250次測(cè)量。從被測(cè)材料上移開傳感器，顯示屏就會(huì)顯示掃描的最小測(cè)值。

PMP10 手持式雙涂層測(cè)厚儀（敏感電渦流法），用于非破壞性的測(cè)量多種基材上的，包括小型結(jié)構(gòu)和粗糙表面上的導(dǎo)電涂層的厚度

MP0/MP0R 系列 涂層測(cè)厚儀 (惡劣環(huán)境)小巧、方便且穩(wěn)固 MP0 和 MP0R 系列儀器能夠簡(jiǎn)便、快速且無損地測(cè)量涂層厚度。配有兩個(gè)顯示屏、一個(gè)特別堅(jiān)固的外殼和耐磨損的探頭，它們是可以直接用于現(xiàn)場(chǎng)可靠測(cè)量的理想設(shè)備。

FMP100 AND H FMP150 涂鍍層測(cè)厚儀 雙鍍層在涂層厚度測(cè)量方面獲得最大的靈活性，同時(shí)滿足最高的精度和準(zhǔn)確度要求：它們將磁感應(yīng)測(cè)量法和渦流測(cè)試法結(jié)合在一個(gè)儀器中，所以你可以在不更換儀器的情況下測(cè)量鋼鐵和有色金屬上的涂層厚度。DUALSCOPE H FMP150還有磁性方法，這允許你測(cè)量有色金屬或絕緣體上的鍍鎳厚度。

MMS INSPECTION DFT 工業(yè)用通用測(cè)厚儀可以快速和可靠度完成重防腐所需的所有測(cè)試需求。適用于測(cè)量鋼鐵和非鐵磁性上的涂鍍層厚度的手持式設(shè)備。

DMP30 微電阻法測(cè)厚儀能快速、準(zhǔn)確、無損地測(cè)量印刷電路板上的銅厚度，并且不受底層銅層的影響。

DMP10-40 便攜式涂層測(cè)厚儀 磁感應(yīng)法渦流法是DMP 系列的便攜性、全方wei功能使其具有足夠的通用性，可用于廣泛的應(yīng)用。這些靈活的設(shè)備是接觸式和非破壞性測(cè)量鐵基材和有色金屬基材上涂層厚度的解決方案。

XAN500 X射線熒光材料分析及鍍層測(cè)厚儀通用手持式X射線熒光分析儀，即使材料組合困難復(fù)雜的情況下，也可以進(jìn)行精確的鍍層厚度測(cè)量和材料分析；符合DIN ISO 3497和ASTM B 568 標(biāo)準(zhǔn)

MX-5DL 超聲波測(cè)厚儀是一種可信賴的精密測(cè)量工具，無需特別培訓(xùn)即可操作，將探頭放到被測(cè)材料的上面或是沿被測(cè)材料的表面拖動(dòng)探頭就可讀出被測(cè)材料的厚度，MX-5DL 可以自動(dòng)找出被測(cè)材料的最薄點(diǎn)。

超聲波測(cè)厚儀是德國(guó)KK/美國(guó)GE公司生產(chǎn)的一款能夠適應(yīng)各種惡劣環(huán)境，能在超高溫、低溫、雨天等環(huán)境下進(jìn)行無損傷的工件厚度測(cè)量，自引進(jìn)之初，已被包括石油化工、輸氣管道、船舶制造、承壓容器等一系列工業(yè)企業(yè)所使用，為其進(jìn)行壁厚測(cè)量，并取得了良好的效果。深受廣大企業(yè)用戶的認(rèn)可和喜愛。

TMG-II 超聲波測(cè)厚儀由于其結(jié)構(gòu)特點(diǎn)，其可以正確測(cè)量帶涂層的厚度，能滿足大多數(shù)的厚度丈量應(yīng)用。三種不同范圍探頭選擇，其操作簡(jiǎn)單、方便使用、外觀時(shí)尚漂亮，TMG-II 深受市場(chǎng)歡迎。

超聲波精密測(cè)厚儀SDW-1600帶數(shù)值顯示，A/B掃描功能。采用脈沖反射超聲波測(cè)厚原理，適用于能使超聲波以一恒定速度在其里面?zhèn)鞑ィ⒛軓钠浔趁娴玫椒瓷涞牟牧虾穸鹊臏y(cè)量。測(cè)量分辨率達(dá)0.001mm，測(cè)量范圍薄至0.15mm(鋼),可以有效穿越涂層干擾。 本產(chǎn)品可應(yīng)用于石油、化工、冶金、造船、航空航天、能源等各個(gè)領(lǐng)域。符合 標(biāo)準(zhǔn)《超聲波測(cè)厚儀校準(zhǔn)規(guī)范》 JJF 1126-2004。